Study of the optical phenomena in zircon with a Scanning Electron Microscope (SEM), using cathodoluminescence method and secondary electrons.
DOI:
https://doi.org/10.26848/rbgf.v9.6.p2082-2088Palavras-chave:
Zircon, Cathodoluminescence, SEM, mineral technologyResumo
The objective of this study is to analyze, describe and characterize, images in SEM (Scanning Electron Microscopy) and how a zircon sample ZR 008 (CRL05) behaves, in order to determine the possible locations where the laser ablation will be made (Ar/F). This procedure will be done to assist in the geological dating process, using the method by ICP / MS. Cathodluminescence and secondary electrons method were used in the process.Downloads
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Copyright (c) 2016 Alan Freitas Machado, Luís Sérgio Brasiliense Cairo, Armando Dias Tavares Junior, Luiz Pinheiro Cordovil da Silva, Vinicius Vianna Riguete, Claudio Elias da Silva

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